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CVE-2018-5912— 多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞

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I. CVE-2018-5912の基本情報

脆弱性情報

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脆弱性タイトル
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Potential buffer overflow in Video due to lack of input validation in input and output values in Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile in MSM8996AU, SD 450, SD 625, SD 820, SD 820A, SD 835, SD 845, SD 850, SDA660
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイトル
多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Qualcomm MSM8996AU等都是美国高通(Qualcomm)公司的一款中央处理器(CPU)产品。 多款Qualcomm产品中存在缓冲区错误漏洞。该漏洞源于网络系统或产品在内存上执行操作时,未正确验证数据边界,导致向关联的其他内存位置上执行了错误的读写操作。攻击者可利用该漏洞导致缓冲区溢出或堆溢出等。以下产品及版本受到影响:Qualcomm MSM8996AU;SD 450;SD 625;SD 820;SD 820A;SD 835;SD 845;SD 850;SDA660。
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)

影響を受ける製品

ベンダープロダクト影響を受けるバージョンCPE購読
Qualcomm, Inc.Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile MSM8996AU, SD 450, SD 625, SD 820, SD 820A, SD 835, SD 845, SD 850, SDA660 -

II. CVE-2018-5912の公開POC

#POC説明ソースリンクShenlongリンク
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III. CVE-2018-5912のインテリジェンス情報

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Same Patch Batch · Qualcomm, Inc. · 2018-11-28 · 14 CVEs total

CVE-2017-18315Qualcomm SD 600 缓冲区错误漏洞
CVE-2017-18316多款Qualcomm Snapdragon产品访问控制错误漏洞
CVE-2017-18317多款Qualcomm Snapdragon产品输入验证漏洞
CVE-2017-18318多款Qualcomm Snapdragon产品输入验证漏洞
CVE-2018-11264多款Qualcomm Snapdragon产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-11921多款Qualcomm Snapdragon产品安全漏洞
CVE-2018-11994多款Qualcomm Snapdragon产品访问控制错误漏洞
CVE-2018-11996多款Qualcomm Snapdragon产品安全漏洞
CVE-2018-5870Qualcomm Snapdragon Mobile SD 835、SDA660和SDX24 安全漏洞
CVE-2018-5877多款Qualcomm Snapdragon产品安全漏洞
CVE-2018-5916多款Qualcomm Snapdragon产品信息泄露漏洞
CVE-2018-5917多款Qualcomm Snapdragon产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5918多款Qualcomm Snapdragon产品缓冲区错误漏洞

IV. 関連脆弱性

V. CVE-2018-5912へのコメント

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