漏洞概述 FUJI Electric V-SFT 存在多个安全漏洞,主要涉及: 栈缓冲区溢出(CWE-121):2处 越界读取(CWE-125):3处 影响范围 受影响产品:V-SFT ver 6.2.10.0 及更早版本 攻击向量:打开特制的 V7 文件 潜在后果:信息泄露或任意代码执行 修复方案 升级软件:更新至开发者提供的最新版本 具体修复版本:V-SFT-6 Ver.V6.2.11.0 No.2640H15 --- 报告者:Michael Heinzl(通过JPCERT/CC协调)