CVE-2025-59606— 高通HLOS空指针解引用漏洞
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一、 漏洞 CVE-2025-59606 基础信息
漏洞信息
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Vulnerability Title
NULL Pointer Dereference in HLOS
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Description
Memory Corruption when writing to invalid memory locations occurs due to heap memory exhaustion during secure data initialization.
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
CVSS Information
CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Type
空指针解引用
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
受影响产品
| 厂商 | 产品 | 影响版本 | CPE | 订阅 |
|---|---|---|---|---|
| Qualcomm, Inc. | Snapdragon | Cologne | - |
二、漏洞 CVE-2025-59606 的公开POC
| # | POC 描述 | 源链接 | 神龙链接 |
|---|
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同批安全公告 · Qualcomm, Inc. · 2026-06-01 · 共 22 条
| CVE-2026-25276 | 8.8 HIGH | 安全处理器数组索引验证不当漏洞 |
| CVE-2026-25277 | 8.8 HIGH | 安全处理器输入缓冲拷贝未检查大小漏洞 |
| CVE-2026-24088 | 8.2 HIGH | Boot 模块关键功能缺少身份验证漏洞 |
| CVE-2026-25260 | 7.8 HIGH | DSP 服务竞态条件漏洞 |
| CVE-2026-25259 | 7.8 HIGH | DSP服务越界写入漏洞 |
| CVE-2026-25258 | 7.8 HIGH | DSP服务越界读取漏洞 |
| CVE-2025-59604 | 7.8 HIGH | SPS应用空指针解引用漏洞 |
| CVE-2025-59605 | 7.8 HIGH | HLOS 越界写入漏洞 |
| CVE-2026-24087 | 7.2 HIGH | 内核输入语法正确性验证不当漏洞 |
| CVE-2026-24085 | 7.2 HIGH | Display 堆栈缓冲区溢出漏洞 |
| CVE-2026-24089 | 7.2 HIGH | 内核输入语法正确性验证不当漏洞 |
| CVE-2026-24091 | 7.2 HIGH | 显示模块输入语法正确性验证不当漏洞 |
| CVE-2026-24092 | 7.2 HIGH | 显示模块输入语法验证不当漏洞 |
| CVE-2026-24090 | 7.1 HIGH | HLOS关键功能缺少身份验证漏洞 |
| CVE-2025-59614 | 6.7 MEDIUM | Windows 计算组件越界写入漏洞 |
| CVE-2025-59613 | 6.7 MEDIUM | Windows Compute 栈缓冲区溢出漏洞 |
| CVE-2025-59612 | 6.7 MEDIUM | Windows Compute 堆栈缓冲区溢出漏洞 |
| CVE-2025-59611 | 6.7 MEDIUM | Core Services 越界写入漏洞 |
| CVE-2025-59601 | 6.5 MEDIUM | 电力线通信固件敏感信息通过元数据泄露漏洞 |
| CVE-2025-59610 | 6.4 MEDIUM | Camera Driver 存在 TOCTOU 竞态条件漏洞 |
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IV. Related Vulnerabilities
V. Comments for CVE-2025-59606
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