CVE-2025-30421— NI Circuit Design Suite 安全漏洞
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一、 漏洞 CVE-2025-30421 基础信息
漏洞信息
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Vulnerability Title
Stack-based Buffer Overflow in DrObjectStorage::XML_Serialize() in NI Circuit Design Suite
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Description
There is a memory corruption vulnerability due to a stack-based buffer overflow in DrObjectStorage::XML_Serialize() when using the SymbolEditor in NI Circuit Design Suite. This vulnerability may result in information disclosure or arbitrary code execution. Successful exploitation requires an attacker to get a user to open a specially crafted .sym file. This vulnerability affects NI Circuit Design Suite 14.3.0 and prior versions.
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
CVSS Information
CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:N/UI:R/S:U/C:H/I:H/A:H
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Type
栈缓冲区溢出
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Title
NI Circuit Design Suite 安全漏洞
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
Vulnerability Description
NI Circuit Design Suite是美国国家仪器（NI）公司的一款电路设计套件，提供了用于电路设计、仿真、验证和布局的一整套工具。 NI Circuit Design Suite 14.3.0及之前版本存在安全漏洞，该漏洞源于DrObjectStorage::XML_Serialize存在栈缓冲区溢出，可能导致信息泄露或执行任意代码。
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
CVSS Information
N/A
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
Vulnerability Type
N/A
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
受影响产品
| 厂商 | 产品 | 影响版本 | CPE | 订阅 |
|---|---|---|---|---|
| NI | Circuit Design Suite | 0 ~ 14.3.0 | - |
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| # | POC 描述 | 源链接 | 神龙链接 |
|---|
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同批安全公告 · NI · 2025-05-15 · 共 5 条
| CVE-2025-30417 | 7.8 HIGH | NI Circuit Design Suite 安全漏洞 |
| CVE-2025-30419 | 7.8 HIGH | NI Circuit Design Suite 安全漏洞 |
| CVE-2025-30420 | 7.8 HIGH | NI Circuit Design Suite 安全漏洞 |
| CVE-2025-30418 | 7.8 HIGH | NI Circuit Design Suite 安全漏洞 |
IV. Related Vulnerabilities
V. Comments for CVE-2025-30421
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