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CVE-2019-1010065— The Sleuth Kit 输入验证错误漏洞

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I. CVE-2019-1010065の基本情報

脆弱性情報
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脆弱性タイトル
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性説明
The Sleuth Kit 4.6.0 and earlier is affected by: Integer Overflow. The impact is: Opening crafted disk image triggers crash in tsk/fs/hfs_dent.c:237. The component is: Overflow in fls tool used on HFS image. Bug is in tsk/fs/hfs.c file in function hfs_cat_traverse() in lines: 952, 1062. The attack vector is: Victim must open a crafted HFS filesystem image.
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイトル
The Sleuth Kit 输入验证错误漏洞
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性説明
The Sleuth Kit（TSK）是Brian Carrier软件开发者的一套数据取证工具集合。该工具能够分析FAT、NTFS、UFS等文件系统，并提供文件系统的详细信息。 TSK 4.6.0及之前版本中的tsk/fs/hfs.c文件的‘hfs_cat_traverse()’函数存在输入验证错误漏洞。该漏洞源于网络系统或产品未对输入的数据进行正确的验证。
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)

影響を受ける製品

ベンダープロダクト影響を受けるバージョンCPE購読
The Sleuth KitThe Sleuth Kit ≤ 4.6.0 -

II. CVE-2019-1010065の公開POC

#POC説明ソースリンクShenlongリンク
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III. CVE-2019-1010065のインテリジェンス情報

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V. CVE-2019-1010065へのコメント

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