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CVE-2018-11993— Qualcomm MDM9206和MDM9607产品缓冲区错误漏洞

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I. CVE-2018-11993の基本情報

脆弱性情報

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脆弱性タイトル
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Improper check while accessing the local memory stack on MQTT connection request can lead to buffer overflow in snapdragon wear in versions MDM9206, MDM9607
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: NVD (National Vulnerability Database)
脆弱性タイトル
Qualcomm MDM9206和MDM9607产品缓冲区错误漏洞
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Qualcomm MDM9206和MDM9607都是美国高通(Qualcomm)公司的中央处理器(CPU)产品。 Qualcomm MDM9206和MDM9607产品中存在越界写入漏洞,该漏洞源于程序执行了错误的边界检查。攻击者可利用该漏洞在系统上执行任意代码或造成拒绝服务。
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)

影響を受ける製品

ベンダープロダクト影響を受けるバージョンCPE購読
Qualcomm, Inc.Snapdragon Wear MDM9206, MDM9607 -

II. CVE-2018-11993の公開POC

#POC説明ソースリンクShenlongリンク
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III. CVE-2018-11993のインテリジェンス情報

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Same Patch Batch · Qualcomm, Inc. · 2019-01-18 · 18 CVEs total

CVE-2018-11999多款Qualcomm产品TrustZone 输入验证错误漏洞
CVE-2018-5915多款Qualcomm产品代码问题漏洞
CVE-2018-5881多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5880多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5879多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5869多款Qualcomm产品TrustZone 输入验证错误漏洞
CVE-2018-5868多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5867多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-3595多款Qualcomm产品代码问题漏洞
CVE-2017-18160多款Qualcomm产品加密问题漏洞
CVE-2018-11998多款Qualcomm产品竞争条件漏洞
CVE-2018-11288多款Qualcomm snapdragon产品安全漏洞
CVE-2018-11284多款Qualcomm snapdragon产品授权问题漏洞
CVE-2018-11279多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2017-8276多款Qualcomm产品授权问题漏洞
CVE-2017-18332多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18331多款Qualcomm产品访问控制错误漏洞

IV. 関連脆弱性

V. CVE-2018-11993へのコメント

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